平成25年度 法規 問11
(b) (a)の測定により,劣化による内部素子の破壊(短絡)が発生していると判断し,機器停止のうえ各相間の静電容量を端子測定法(端子開放で測定)で測定した。
図2のとおりの内部結線における素子破壊(素子極間短絡)が発生しているとすれば,静電容量測定結果の記述として,正しいものを次の(1)~(5)のうちから一つ選べ。ただし,図中印は,破壊素子を表す。
(1) 相間の測定値は,最も小さい。
(2) 相間の測定値は,最も小さい。
(3) 相間は,測定不能である。
(4) 相間の測定値は,相間の測定値の約である。
(5) 相間と相間の測定値は,等しい (a) の解答を表示する (a) の解答を非表示にする
正解:(1)
(b) の解答を表示する (b) の解答を非表示にする
正解:(2)
出典:平成25年度第三種電気主任技術者試験 法規科目